実験装置
- Ball-on-Disk型摩擦試験機Ⅰ
- Ball-on-Disk型摩擦試験機Ⅱ
- Ball-on-Disk型摩擦試験機Ⅲ(高温摩擦試験装置)
- Ball-on-Disk型摩擦試験機Ⅳ(水潤滑用試験装置)
- 真空用Ball-on-Disk型摩擦試験機
- 真空用Ball-Bearing型摩擦試験機
- 真空用Ball-Bearing型摩擦試験機(日立メディコより借用)
- TE66 Micro-scale Abrasion Tester(Phoenix Tribology)
- 超音波モータ駆動型ステージ試験装置（小型）
- 超音波モータ駆動型ステージ試験装置（中型）
- 超音波モータ駆動型ステージ試験装置（大型）(京セラより借用)
- 摩擦音測定装置
- 円筒・円筒すべり摩擦試験機(水潤滑用試験装置)
- 二円筒型転がり摩擦試験機
- 柔軟媒体搬送システム評価装置
- 液晶分子配向用ラビング装置
- トライボシステム加振法実験装置(液晶分子配向用ラビング布の評価装置)
- トライボシステム加振法実験装置：周波数発生装置(KENWOOD)
- トライボシステム加振法実験装置：振動発生装置(EMIC 512-D)
- トライボシステム加振法実験装置：電源増幅装置(EMIC 371-A)
- 健康機械実験装置Ⅰ: Bio Control Bike（omron）
- 健康機械実験装置Ⅱ: Healthful Stepper（omron）
計測装置・分析装置
- 表面粗さ形状測定機 サーフコム1500(ACCRE TECH)
- 表面粗さ測定装置(ミツトヨ)
- 走査型プローブ顕微鏡（原子間力顕微鏡） SPI3800(セイコー電子)
- 走査電子顕微鏡 S-2350(日立)
- エネルギー分散型X線分析装置 EMAX-7000(HORIBA)
- 電界放出型走査電子顕微鏡 S-80 / SEM用超高精細画像処理システム PCI(日立)
- 環境制御型走査電子顕微鏡（共通装置）(Nikon)
- リアルタイム走査型レーザー顕微鏡 1LM21(レーザーテック)
- 光学顕微鏡システム / 光学顕微鏡 BH2-UMA(OLYMPUS)
- 光学顕微鏡システム / 顕微鏡デジタルカメラ DS-5M-L1 BH2-UMA(Nikon)
- 実態顕微鏡システム / 実態顕微鏡 SZ-60（OLYMPUS）
- 実態顕微鏡システム / CCDカメラ FCD-725（OLYMPUS）
- デジタルHFマイクロスコープ VH-8000（レンズ：VH-Z25, VH-Z75, VH-Z450）（キーエンス）
- 高速フーリエ変換赤外分光光度計 FT-520W（HORIBA）
- レーザドップラ振動計 LV-1610（小野測器）
- レーザドップラ振動計 LV10（SONY）
- 微小押し込み硬さ試験機 MHA-400（NEC）
- ビッカース硬度計 MVK-E（AKASHI）
- 精密天秤 AE163（Mettler）
- 赤外線放射温度計 IR-AP（CHINO）
環境制御装置
- 赤外線集光加熱装置 IR-2000（サーモ理工）
- 高速・高精度コンパクト除電ブロワ SJ-F100/010（キーエンス）
- 除電ブロワ SJ-F020（キーエンス）
- 温度・湿度制御装置（SONYより借用）（TABAI）
- クリーンブース（アルプス電気より借用）（AIR TECH）
- 試料研磨機 Doctor-Lap（MARUTO）
- 小型ボール盤
成膜装置
- イオンビームミキシング装置（共通装置）（日立）
- イオンコーター IB-3（Eiko）